Кобальтовая проволока высокой чистоты 99 Φ 3 2 1 можно заказать другие
69 500,70 руб.
Новое поступление
Кварцевые Капиллярные Трубки OD16 * ID11 l550мм/одностворчатая стеклянная капиллярная
9 680,80 руб.
Аксессуары редуктора фланца с винтами на выходе NMRV040|Фланцы| |
445,32 - 491,49 руб.
Кварцевая кювета 10 мм/УФ/импортное стекло JGS1/устойчивое к высоким температурам
1 232,44 руб.
Макетная плата CAN bus STM32F103C8T6 материнская минимальная системная плата|Фланцы| |
3 466,47 руб.
Чистый титановый материал 0 класс губки титан 500 г Цена за единицу|Фланцы| |
1 861,69 руб.
6001 керамический подшипник из циркония/ID * OD толщина: 12*28*8 мм|bearing bearing|bearing 6001bearing
1 787,22 руб.
Тройной зажим 2 дюйма для шарового замка газовый столб санитарный фитинг SS304
1 194,46 руб.
Характеристики
Однокристальная силиконовая Вафля/подложка 20*25 мм Si/односторонняя полированная
История изменения цены
*Текущая стоимость 18 616,92 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"
| Месяц | Минимальная цена | Макс. стоимость | Цена |
|---|---|---|---|
| Jul-25-2026 | 22153.35 руб. | 23261.38 руб. | 22707 руб. |
| Jun-25-2026 | 21967.63 руб. | 23065.35 руб. | 22516 руб. |
| May-25-2026 | 18430.7 руб. | 19352.75 руб. | 18891 руб. |
| Apr-25-2026 | 21595.46 руб. | 22675.84 руб. | 22135 руб. |
| Mar-25-2026 | 18802.72 руб. | 19742.31 руб. | 19272 руб. |
| Feb-25-2026 | 21222.77 руб. | 22283.55 руб. | 21752.5 руб. |
| Jan-25-2026 | 21036.86 руб. | 22088.47 руб. | 21562 руб. |
| Dec-25-2025 | 20850.95 руб. | 21893.38 руб. | 21371.5 руб. |
| Nov-25-2025 | 20664.22 руб. | 21697.88 руб. | 21180.5 руб. |
Описание товара
ОдиночныйБоковая полировка одинарного кристалла кремния
Технические характеристики:
Одинарный кристалл, 20*25 мм * 0,725.
Материал:
Высокая чистота кремния Si одиночный Кристалл подложки. P (100)resistanc 0,01 0,01
Область применения:
1.PVD/CVD покрытие подложки
2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные подложки
3. Экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения
4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания
5. Процесс литографии полупроводников и так далее
Смотрите так же другие товары: